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Sub-Wavelength Features in Spectroscopic Mueller Matrix Ellipsometry

Kroker Stefanie, Wurm Matthias, Siefke Thomas, Käseberg Tim, Bodermann Bernd
Keywords:

Gratings, Measurement Technology, Scatterometry

Document type Proceedings
Journal title / Source Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik Proceedings 2019
Volume 120
Publisher's name Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V. (DGaO)
Publication date 2019-9
Conference name 120. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für angewandte Optik
Conference date 11-06-2019 to 15-06-2019
Conference place Darmstadt
ISSN 1614-8436
Web URL https://www.dgao-proceedings.de/download/120/120_p9.pdf
Language English
Persistent Identifier

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Information

Name of Call / Funding Programme
EMPIR 2017: Fundamental